特許

J-GLOBAL ID：200903081836441015

X線異物検出方法

発明者： 芝田 健治 ,  大野 隆
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 竹本 松司 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-133871
公開番号（公開出願番号）：特開2000-321220
出願日： 1999年05月14日
公開日（公表日）： 2000年11月24日
要約：

【要約】【課題】 被検査物に含まれる異物の検出において、微小で、透過X線強度のコントラストの低い異物の検出精度を高める。【解決手段】 透過X線によって被検査物の異物検出を行うX線異物検出方法において、透過X線像の画像データに対して、異物の画像サイズと少なくとも一方向について略同じ画像サイズを持つ画像フィルタを用い、高周波成分を除去するエッジ保存型高周波成分除去処理を施すことにより、高周波を含まない参照画像データを生成し、前記画像データと参照画像データとの間で画像減算を行い、画像減算によって得た画像データの強度信号について、異物に対応したしきい値を用いてしきい値処理を行うことにより、異物検出を行う。

請求項（抜粋）：

透過X線によって被検査物の異物検出を行うX線異物検出方法において、透過X線像の画像データに対して、異物の画像サイズと少なくとも一方向について略同じ画像サイズを持つ画像フィルタを用い、高周波成分を除去するエッジ保存型高周波成分除去処理を施すことにより、高周波を含まない参照画像データを生成し、前記画像データと参照画像データとの間で画像減算を行い、前記画像減算によって得た画像データの強度信号について、異物に対応したしきい値を用いてしきい値処理を行うことにより、異物検出を行うことを特徴とするX線異物検出方法。

IPC (3件)：

G01N 23/04 ,  G01N 23/18 ,  G06T 7/00

FI (3件)：

G01N 23/04 ,  G01N 23/18 ,  G06F 15/62 400

Fターム (20件)：

2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA02 ,  2G001DA08 ,  2G001FA06 ,  2G001FA23 ,  2G001FA30 ,  2G001HA07 ,  2G001HA13 ,  2G001JA09 ,  2G001KA03 ,  2G001PA03 ,  2G001PA11 ,  5B057BA03 ,  5B057CE06 ,  5B057CH09 ,  5B057DA02 ,  5B057DB02 ,  5B057DC22