特許
J-GLOBAL ID：200903081936962438
落射蛍光顕微鏡装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
長谷川 芳樹 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-250437
公開番号（公開出願番号）：特開平10-096862
出願日： 1996年09月20日
公開日（公表日）： 1998年04月14日
要約：
【要約】【課題】 自家蛍光発生量が少なく、試料から発生した蛍光を高感度に検出することができる落射蛍光顕微鏡装置を提供する。【解決手段】 反射鏡30は、試料50で発生し対物レンズ40から出射された蛍光B1の光路上であって、蛍光B1の光束断面の一部に配されている。励起光源10から出射された励起光Aは、コレクタレンズ20およびコリメータレンズ21により所定の光束径とされ、励起フィルタ22により励起波長成分のみが透過され、反射鏡30により反射され、対物レンズ40により試料50に集光照射される。一方、試料50で発生して対物レンズ40を通過した蛍光B1は、一部が反射鏡30で遮断されるが、残部が反射鏡30で遮断されることなく、励起カットフィルタ61を経て、結像レンズ60により結像され、検出器70により検出される。
請求項（抜粋）：
励起光を試料に照射し該試料から発生した蛍光を検出する落射蛍光顕微鏡装置であって、前記蛍光の光路上であって前記蛍光の光束断面の一部に配され、前記励起光を前記試料に向けて反射させる反射鏡と、前記反射鏡により反射された前記励起光を入力して前記試料に集光照射するとともに、前記試料から発生した前記蛍光を入力して前記反射鏡の側に出力する対物レンズと、を備えることを特徴とする落射蛍光顕微鏡装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G02B 21/06
, G01N 21/64 E
