特許

J-GLOBAL ID：200903081957731622

ゴム混和物の非破壊検査方法

発明者： 谷 厚 ,  山口 智雄
出願人/特許権者： 日東電工株式会社
代理人 (1件)： 祢▲ぎ▼元 邦夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-046830
公開番号（公開出願番号）：特開2001-228101
出願日： 2000年02月18日
公開日（公表日）： 2001年08月24日
要約：

【要約】【課題】 ゴムと添加剤を含むゴム混和物において、元の状態を変形させずに、内部の気泡状態と添加剤の分散状態を検査する非破壊検査方法を提供する。【解決手段】 ゴムと添加剤を含むゴム混和物のX線透過画像により、ゴム混和物内部の気泡状態とゴムと異なるX線透過率を持つ添加剤の分散状態とを検査する非破壊検査方法、また、ゴムと添加剤を含むゴム混和物のX線CTによる断層画像により、ゴム混和物内部の気泡状態とゴムと異なるX線透過率を持つ添加剤の分散状態とを3次元的に検査する非破壊検査方法。

請求項（抜粋）：

ゴムと添加剤を含むゴム混和物のX線透過画像により、ゴム混和物内部の気泡状態と、ゴムと異なるX線透過率を持つ添加剤の分散状態とを検査することを特徴とするゴム混和物の非破壊検査方法。

IPC (3件)：

G01N 23/04 ,  G01N 23/18 ,  G01N 33/44

FI (3件)：

G01N 23/04 ,  G01N 23/18 ,  G01N 33/44

Fターム (14件)：

2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001GA06 ,  2G001GA08 ,  2G001HA13 ,  2G001HA14 ,  2G001JA13 ,  2G001KA03 ,  2G001LA05 ,  2G001MA04 ,  2G001NA17 ,  2G001NA18 ,  2G001NA20