特許
J-GLOBAL ID：200903082009067525
表面顕微鏡用探針及びそれを用いた表面顕微鏡
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
薄田 利幸 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-166690
公開番号（公開出願番号）：特開平5-142315
出願日： 1991年07月08日
公開日（公表日）： 1993年06月08日
要約：
【要約】【目的】表面形態情報と分離して正確な磁気情報を得るのに好適な表面顕微鏡及びその探針を提供すること。【構成】鋭く尖った先端を有する強磁性探針の周囲に、先端曲率の大きな非磁性体の層を設けた探針を備えた表面顕微鏡用探針及びこの探針を備えた表面顕微鏡。【効果】磁性試料の磁気情報とその形態情報を区別し、正確な磁気情報を高分解能で計測できる効果を有する。
請求項（抜粋）：
強磁性探針と、該強磁性探針の少なくとも先端の周囲に設けられた非磁性体とよりなることを特徴とする表面顕微鏡用探針。
IPC (2件)：
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