ICテスタ

発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-156235
公開番号（公開出願番号）：特開2001-337133
出願日： 2000年05月26日
公開日（公表日）： 2001年12月07日
要約：

【要約】【課題】高速セトリング波形について連続的にデータの平均化処理を行なうことにより、高速高精度にセトリング波形の測定ができるICテスタを実現する。【解決手段】被試験ICの試験を行なうICテスタにおいて、被試験ICが出力するセトリング信号をデジタイズして取込むハイレゾルーションデジタイザと、このハイレゾルーションデジタイザから順次取込むデータをその直前のデータに加算すると共に加算されたデータを加算回数でスケーリングし、取込みデータの平均化処理を行なうデジタルシグナルプロセッサを備えた構成とする。

請求項（抜粋）：

被試験ICの試験を行なうICテスタにおいて、前記被試験ICが出力するセトリング信号をデジタイズして取込むハイレゾルーションデジタイザと、このハイレゾルーションデジタイザから順次取込むデータをその直前のデータに加算すると共に加算されたデータを加算回数でスケーリングし、取込みデータの平均化処理を行なうデジタルシグナルプロセッサを具備したことを特徴とするICテスタ。

Fターム (3件)：

2G032AD07 , 2G032AE12 , 2G032AG07

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