特許

J-GLOBAL ID：200903082047710709

超電導分光器及び顕微鏡

発明者： 須賀 三雄 ,  細谷 睦 ,  小南 信也 ,  三田 玲英子 ,  二宮 健
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 薄田 利幸
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-065935
公開番号（公開出願番号）：特開平9-257998
出願日： 1996年03月22日
公開日（公表日）： 1997年10月03日
要約：

【要約】【課題】放射線の2次元的な入射位置とエネルギーを同時に、高分解能で検出できる超電導分光器を実現する。また、エネルギー分解能の高い超電導分光器を実現する。【解決手段】超電導分光器の検出部1を超電導体101の一面に電気的に接した3つ以上の超電導トンネル接合部108により構成し、トンネル接合部108が超電導体101面上における特定の領域を囲むようにそれぞれ配置する。また、上記超電導分光器を使用して顕微鏡を構成する。【効果】外部から磁場を印加することなく超電導トンネル接合を流れる超電導電流を低減するため、超電導分光器のエネルギー分解能が向上する。また、超電導放射線分光器で、放射線の2次元的な入射位置とエネルギーを同時に検出できる。更に、本超電導分光器を用いた顕微鏡では、シンクロトロン放射線を用いずに、微少領域の形状測定及び元素・状態分析ができる。

請求項（抜粋）：

超電導体と、上記超電導体の一面上に電気的に接し、かつ上記一面上の特定領域を囲むように配置された3つ以上の超電導トンネル接合部とをもつことを特徴とする超電導分光器。

IPC (2件)：

G21K 1/06 ZAA ,  G21K 7/00

FI (2件)：

G21K 1/06 ZAA A ,  G21K 7/00