特許
J-GLOBAL ID：200903082088674512
めっき層合金相厚さの測定方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
井内 龍二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-138027
公開番号（公開出願番号）：特開平6-347247
出願日： 1993年06月10日
公開日（公表日）： 1994年12月20日
要約：
【要約】【構成】 母材表面のめっき層側に母材及びめっき材を構成する元素によって形成された複数層の合金相を有する合金化めっき金属板にX線を照射し、得られる回折線強度を用いて各合金相厚さを測定する方法において、試験材の各合金相及び母材の所定の結晶面間隔に対応する回折X線強度測定値と、予め求めておいた試験材と同一構造の基準材についての各合金相及び母材の試験材と同一の結晶面間隔に対応する回折X線強度測定値と、回折X線の理論強度式とを用い、試験材の各合金相厚さを求めるめっき層合金相厚さの測定方法。【効果】 少ない基準材を用いて従来に比べより少ない費用と時間で分析の準備ができ、かつ正確に金属板表面のめっき層を構成する各合金相の厚さを求めることができ、表面に合金化めっき層を有する金属板を製造する工程において、オンラインで迅速に分析を行う方法を提供することができる。
請求項（抜粋）：
母材表面のめっき層側に母材及びめっき材を構成する元素によって形成された複数層の合金相を有する合金化めっき金属板にX線を照射し、得られる回折線強度を用いて各合金相の厚さを測定するめっき層合金相厚さの測定方法において、試験材の前記各合金相及び前記母材の所定の結晶面間隔に対応する回折X線強度測定値と、予め求めておいた前記試験材と同一構造の基準材についての各合金相及び母材の前記試験材と同一の結晶面間隔に対応する回折X線強度測定値と、回折X線の理論強度式とを用い、前記試験材の前記各合金相の厚さを求めることを特徴とするめっき層合金相厚さの測定方法。
IPC (2件)：
前のページに戻る
