特許
J-GLOBAL ID：200903082092562788
ICテスタおよびICテスタにおける基板識別方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
堀 城之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-112878
公開番号（公開出願番号）：特開2001-296329
出願日： 2000年04月14日
公開日（公表日）： 2001年10月26日
要約：
【要約】【課題】 本発明は、基板交換の有無を自己認識することができるICテスタおよびICテスタにおける基板識別方法を提供することを課題とする。【解決手段】 搭載基板が交換された場合、当該搭載基板の交換後に配線長データの取り直しが実行されたかどうかを判定して基板交換の有無を認識する手段を有する。
請求項（抜粋）：
搭載基板が交換された場合、当該搭載基板の交換後に配線長データの取り直しが実行されたかどうかを判定して基板交換の有無を認識する手段を有することを特徴とするICテスタ。
Fターム (5件)：
2G032AA00
, 2G032AE08
, 2G032AE12
, 2G032AK03
, 2G032AL01
