特許

J-GLOBAL ID：200903082114386130

検眼装置

発明者： 小早川 嘉
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 日比谷 征彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-048128
公開番号（公開出願番号）：特開2001-231754
出願日： 2000年02月24日
公開日（公表日）： 2001年08月28日
要約：

【要約】【課題】 被検者の目の動きに拘らず精度良くかつ簡便に周辺を含む角膜形状測定を行う。【解決手段】 可視半導体レーザー光源36からの光束を走査両面ミラー30により左右に切換えて、ステップモータ28で1ステップずつ走査しながら被検眼Eの角膜Cに投影し、角膜Cからの反射光をビデオカメラに結像し、この映像を走査両面ミラー30の回転ステップ毎に演算手段に取り込み、角膜散乱像から角膜周辺部を含む角膜各部の表面形状や厚さなどを解析する。このときに、赤外LED光源を弱く点灯してアレイセンサで得られる角膜反射像Tも同時に取り込み、被検眼Eの位置を各散乱像毎に記録する。それを演算して各散乱像の取り込み時の被検眼Eの位置を検出し、それぞれが角膜Cのどの部分の散乱像かを認識して正確な形状測定を行う。

請求項（抜粋）：

被検眼の位置を検出する位置検出手段と、スリット光束を角膜に走査しながら投影し投影方向と異なる方向から前記スリット光束の角膜散乱像を撮像記録して角膜周辺を含む角膜形状を測定する角膜測定手段とを有し、前記角膜散乱像を逐次に記録するときに前記位置検出手段により被検眼の位置を同時に検出し、前記位置検出手段で得られた検出情報を使用して角膜形状を測定することを特徴とする検眼装置。

IPC (2件)：

A61B 3/10 ,  G06T 1/00

FI (4件)：

A61B 3/10 J ,  A61B 3/10 W ,  A61B 3/10 N ,  G06F 15/64 B

Fターム (8件)：

5B047AA17 ,  5B047AA30 ,  5B047BB06 ,  5B047BC05 ,  5B047BC09 ,  5B047BC16 ,  5B047BC30 ,  5B047CB16