特許
J-GLOBAL ID：200903082117462538
表面状態検出装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
福岡 正明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-225052
公開番号（公開出願番号）：特開平5-045143
出願日： 1991年08月09日
公開日（公表日）： 1993年02月23日
要約：
【要約】【目的】 光源より被検査面に光を照射し、その被検査面からの反射光をカメラにより捕らえて受光画像を作成し、この受光画像中の明度変化に基づいて被検査面の表面状態を検査する装置として、上記カメラの自己写り込みを確実に防止し、且つ検査精度を向上させることができると共に、当該装置の全体をよりコンパクトに構成することを目的とする。【構成】 塗膜面10aに対して面光源としての光照射手段14より明暗光14aを照射し、この光照射手段14の中心部に配置されたCCDカメラ15により上記塗膜面10aからの反射光を捕らえて該塗膜面10aの表面状態に応じた明暗ある受光画像を作成すると共に、上記明暗光14aを光照射手段14におけるCCDカメラ15が配置された中心部より周囲に向けて暗から明に光度が次第に増加するように設定する。
請求項（抜粋）：
被検査面に光を照射し、その被検査面からの反射光を捕らえて受光画像を作成し、該受光画像中の明度変化に基づいて被検査面の表面状態を検査する表面状態検出装置であって、上記被検査面に対して検査光を照射する面光源と、該面光源の中心部に配置されて上記被検査面からの反射光を捕らえて該検査面の表面状態に応じた明暗ある受光画像を作成するカメラとが備えられていると共に、上記面光源の検査光が該面光源におけるカメラが配置された中心部より周囲に向けて暗から明に光度が次第に増加するように設定されていることを特徴とする表面状態検出装置。
引用特許：
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