特許

J-GLOBAL ID：200903082122887482

透明シート状成形体の欠陥検査方法

発明者： 佐々木 溥 ,  廣瀬 修 ,  鈴木 孝志
出願人/特許権者： 住友化学工業株式会社
代理人 (1件)： 久保山 隆 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-190654
公開番号（公開出願番号）：特開平8-054351
出願日： 1994年08月12日
公開日（公表日）： 1996年02月27日
要約：

【要約】 (修正有)【構成】 連続的に移送される透明シート状成形体1の片側から、透明シート状成形体1に対し5°〜15°の角度で高輝度、高指向性の光を照射し、透明シート状成形体1を透過してきた光を、透明シート状成形体1の表面に対して前方或いは後方に焦点位置をずらした状態で画像入力装置3で受光し、画像入力装置3からの出力信号に基づき画像処理装置4にて欠陥検出を行うことを特徴とする透明シート状成形体の欠陥検査方法。【効果】 連続的に移送される透明シート状成形体の表面に存在する微細な厚みムラ等の欠陥をオンライン上で自動的に検索可能とする。

請求項（抜粋）：

連続的に移送される透明シート状成形体の片側から、該透明シート状成形体に対し5°〜15°の角度で高輝度、高指向性の光を照射し、該透明シート状成形体を透過してきた光を、該透明シート状成形体の表面に対して前方或いは後方に焦点位置をずらした状態で画像入力装置で受光し、前記画像入力装置からの出力信号に基づき画像処理装置にて欠陥検出を行うことを特徴とする透明シート状成形体の欠陥検査方法。

IPC (4件)：

G01N 21/89 ,  G01N 21/88 ,  G06T 7/00 ,  G06T 1/00

FI (2件)：

G06F 15/62 400 ,  G06F 15/64 J