特許

J-GLOBAL ID：200903082154424956

分離装置、分離方法、および質量分析システム

発明者： 麻生川 稔 ,  馬場 雅和 ,  川浦 久雄 ,  佐野 亨 ,  飯田 一浩 ,  井口 憲幸 ,  染谷 浩子 ,  服部 渉
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (1件)： 速水 進治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-349282
公開番号（公開出願番号）：特開2004-184138
出願日： 2002年11月29日
公開日（公表日）： 2004年07月02日
要約：

【課題】被分離成分を含む試料から高濃度で精度よく各成分を分離する。【解決手段】分離装置100は、被分離成分を含む試料の移動する流路112と、分離用流路112を複数の部屋200〜206に区画する関門部208〜206とを有する。分離装置100は、図示していない外力付与手段をさらに有し、外力付与手段は、被分離成分に外力を付与し流路中を移動させる。また、外力付与手段は、流路の進行方向に外力を付与する第一の外力印加パターンと、流路の進行方向と反対方向に外力を付与する第二の外力印加パターンとを順次繰り返し実行するように構成される。これにより、被分離成分がいずれかの室に分画される。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

被分離成分を含む試料の移動する流路と、 前記流路中に設けられ、前記被分離成分の逆流を抑制する一または二以上の逆流抑制弁と、 前記逆流抑制弁により区画された複数の室と、 前記被分離成分に外力を付与し前記流路中を移動せしめる外力付与手段と、 を備え、 前記外力付与手段は、前記被分離成分に前記流路の進行方向に外力を付与する第一の外力印加パターンと、前記被分離成分に前記流路の進行方向と反対方向に外力を付与する第二の外力印加パターンとを順次繰り返し実行し、前記被分離成分をいずれかの前記室に分画される機能を備えたことを特徴とする分離装置。

IPC (3件)：

G01N27/447 ,  G01N27/62 ,  G01N37/00

FI (4件)：

G01N27/26 331C ,  G01N27/62 F ,  G01N37/00 101 ,  G01N27/26 331E