特許
J-GLOBAL ID:200903082157830807
電池の内部短絡評価方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (3件):
岩橋 文雄
, 内藤 浩樹
, 永野 大介
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-217042
公開番号(公開出願番号):特開2009-054300
出願日: 2007年08月23日
公開日(公表日): 2009年03月12日
要約:
【課題】電池の内部短絡安全性は、従来の電池内部短絡評価方法である釘刺し試験は、短絡箇所が電池の最外周部に限られており、その評価結果は最外周部の構成に大きく左右されていた。また、同様に内部短絡評価法として同様に用いられている圧壊試験法は、短絡の発生箇所が試験によってばらつきがあり、内部短絡に対する安全性を正確には評価できていなかった。【解決手段】電池の内部短絡時の安全性を評価する方法であって、電池内の任意の点を任意の温度で短絡させることが可能であることを特徴とする電池の内部短絡評価方法を用いる。【選択図】図1
請求項(抜粋):
正極と、負極と、正負極を電気的に絶縁する絶縁層とを巻回、または積層した電極群と電解質と、これらを内包する外装体と、電極群と電気的に接続する集電端子とを含む電池の内部短絡時の安全性を評価する方法であって、臨界温度抵抗体により、電池内の任意の点で、前記臨界温度抵抗体の抵抗変化温度以上の環境温度において短絡を発生させることが可能であることを特徴とする電池の内部短絡評価方法。
IPC (3件):
H01M 10/48
, H01M 6/50
, G01R 31/36
FI (3件):
H01M10/48 P
, H01M6/50
, G01R31/36 A
Fターム (12件):
2G016CB05
, 2G016CB11
, 2G016CC01
, 2G016CC04
, 2G016CC06
, 2G016CD14
, 2G016CF01
, 2G016CF06
, 5H025MM02
, 5H030AA06
, 5H030FF00
, 5H030FF41
引用特許:
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