特許

J-GLOBAL ID：200903082189981459

超音波検査方法および装置

発明者： 瀧下 芳彦
出願人/特許権者： 日立建機株式会社
代理人 (1件)： 永井 冬紀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-291488
公開番号（公開出願番号）：特開平6-138109
出願日： 1992年10月29日
公開日（公表日）： 1994年05月20日
要約：

【要約】【目的】 Cスコープ画像形成のためのデータサンプリング時間を短縮する。【構成】 アレイ探触子1に列設された複数の超音波振動子T1〜T64を電子的に走査しつつ、スキャナによりこのアレイ探触子1を電子走査方向と異なる方向に走査して、マトリクス状に配置された測定点からの測定信号を得る超音波検査方法および装置において、スキャナによりアレイ探触子1を往路方向に走査しつつ超音波振動子T1〜T64を第1の方向に電子的に走査した後、スキャナによりアレイ探触子1を復路方向に走査しつつ超音波振動子T1〜T64を逆方向に電子的に走査し、これにより各測定点からの測定信号を得る。

請求項（抜粋）：

アレイ探触子に少なくとも一方向に列設された複数の超音波振動子を電子的に走査しつつ、走査機構によりこのアレイ探触子を電子走査方向と異なる方向に走査して、マトリクス状に配置された測定点からの測定信号を得る超音波検査方法において、前記走査機構により前記アレイ探触子を所定方向に走査しつつ前記超音波振動子を第1の方向に電子的に走査する工程と、前記走査機構により前記アレイ探触子を前記所定方向と逆方向に走査しつつ前記超音波振動子を前記第1の方向と異なる第2の方向に電子的に走査する工程とにより前記測定信号を得ることを特徴とする超音波検査方法。