特許
J-GLOBAL ID：200903082198139744
半導体装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大西 孝治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-328095
公開番号（公開出願番号）：特開平5-142308
出願日： 1991年11月15日
公開日（公表日）： 1993年06月08日
要約：
【要約】【目的】 半導体装置における機能ブロック間の接続ラインの結線の良否を簡単に検査できるようにする。【構成】 図1に示す半導体装置は機能ブロック1〜3からなる基本構成となっており、機能ブロック1〜3の間は接続ラインA〜Eで接続されている。接続ラインA〜Eの機能ブロック入力端子側には、テスト電圧設定部10が設けられている一方、機能ブロック出力端子側には、レジスタ部20が設けられている。テスト信号入力端子T1を介してテスト信号αが外部入力されると、テスト電圧設定部10によって接続ラインA〜Eの機能ブロック入力端子側の各電圧が夫々設定される。他方、接続ラインA〜Eの機能ブロック出力端子側の各電圧はレジスタ部20により夫々検知・保持され、保持された各電圧のシリアルデジタルデータがテスト結果信号δとしてテスト結果出力端子T5を介して外部出力される。
請求項（抜粋）：
複数の機能ブロックから構成されており、当該機能ブロックの間を接続するn本の接続ラインの結線の良否を検査する機能を備えた半導体装置であって、n個のシリアルデジタルデータからなるテスト信号を外部入力するためのテスト信号入力端子と、複数の機能ブロックの各出力端子と当該出力端子に接続された接続ラインとの間に夫々設けてあり、且つn本の接続ライン上の機能ブロック出力端子側の電圧を前記テスト信号におけるn個のシリアルデジタルデータに対応して夫々設定するテスト電圧設定部と、複数の機能ブロックの各入力端子と当該入力端子に接続された接続ラインとの間に夫々設けてあり、且つn本の接続ライン上の機能ブロック入力端子側の電圧を夫々検出し、検出した電圧のデータをシリアルデジタルデータとして順次出力するレジスタ部と、レジスタ部から導かれたシリアルデジタルデータをテスト結果信号として外部出力するテスト結果出力端子とを具備していることを特徴とする半導体装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R 31/28 V
, G01R 31/28 R
