特許
J-GLOBAL ID:200903082216688947

測定装置用の懸架装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 杉村 暁秀 (外5名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-065234
公開番号(公開出願番号):特開平11-295069
出願日: 1999年03月11日
公開日(公表日): 1999年10月29日
要約:
【要約】【課題】 重力作用の影響を受ける測定装置用として、耐衝撃性に優れ、大量生産プロセスによって容易かつ経済的に製造可能な懸架装置を提案する。【解決手段】 本発明の懸架装置(16)は、測定システム及び/又は光学系を支持するために少なくとも一つの水平軸線を中心として揺動可能に懸架された支持構体(7)を含む測定装置(6)を対象としている。懸架装置(16)は、薄肉ヒンジとして形成された少なくとも1個の継手(21;40)を具えている。
請求項(抜粋):
測定システム及び/又は光学系を支持すべく、少なくとも一つの水平軸線を中心として揺動可能に懸架された支持構体(7)を含む測定装置(6)を対象とする懸架装置(16)であって、薄肉ヒンジとして形成された少なくとも1個の継手(21;40)を具えることを特徴とする懸架装置。
IPC (2件):
G01C 15/00 ,  G12B 9/08
FI (2件):
G01C 15/00 P ,  G12B 9/08 B
引用特許:
審査官引用 (2件)

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