特許
J-GLOBAL ID：200903082219165848
光ファイバひずみ計測方法及びその方法を実現するための記録媒体
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
谷 義一 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-203809
公開番号（公開出願番号）：特開2001-033218
出願日： 1999年07月16日
公開日（公表日）： 2001年02月09日
要約：
【要約】【課題】 ブリルアン散乱光のパワースペクトルを求めてひずみの計測精度を向上させること。【解決手段】 入射光パルス幅を考慮して、ブリルアン散乱光のパワースペクトルを、決定すべきパワースペクトルのピーク周波数とピーク値と半値全幅とを変数に含んだ形で記録し、計測されたパワースペクトルをブリルアン散乱光のパワースペクトルに対して最小二乗法によるフィッティングを行い、決定すべきパワースペクトルのピーク周波数とピーク値と半値全幅とを決定し、ひずみを高精度に計測可能とする。
請求項（抜粋）：
センサとして用いる光ファイバに光パルスを入射し、該入射光パルスにより発生した後方散乱光の一つであるブリルアン散乱光のパワースペクトルを計測し、該パワースペクトルのピーク値と、該ピーク値を与えるピーク周波数と、半値全幅とを決定して、前記光ファイバに発生している長さ方向のひずみ分布を求める光ファイバひずみ計測方法において、前記光ファイバに沿った長さ方向の各計測点について、光周波数を変数としてブリルアン散乱光のパワーの計測値をソートする第1のステップと、前記入射光パルスの時間幅が短いときの入射光パワー分布を考慮したブリルアン散乱光のパワースペクトルを、決定すべきパワースペクトルのピーク周波数とピーク値と半値全幅とを変数に含んだ形で記述し、計測されたパワースペクトルを前記ブリルアン散乱光のパワースペクトルに対して最小二乗法によるフィッティングを行い、前記決定すべきパワースペクトルのピーク周波数とピーク値と半値全幅とを決定する第2のステップと、前記光ファイバの求めるべき長さ方向の全ての計測点について、前記第2のステップを繰り返して行う第3のステップと、からなることを特徴とする光ファイバひずみ計測方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01B 11/16 Z
, G01M 11/00 U
2F065AA06
, 2F065AA65
, 2F065CC00
, 2F065CC40
, 2F065DD03
, 2F065FF12
, 2F065FF42
, 2F065GG22
, 2F065LL00
, 2F065LL02
, 2F065LL57
, 2F065PP22
, 2F065QQ18
, 2F065QQ29
, 2F065QQ44
, 2F065QQ45
, 2F065UU05
, 2G086CC02
, 2G086DD05
