粒子分析装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：野河信太郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-081621
公開番号（公開出願番号）：特開平9-273988
出願日： 1996年04月03日
公開日（公表日）： 1997年10月21日
要約：

【要約】【課題】粒子含有試料流に連続光と断続光とを照射してそれぞれ粒子の特徴パラメータの検出と粒子像の撮像とを行う場合に、断続光の影響によって誤った特徴パラメータが検出されることを防止する。【解決手段】粒子含有試料を試料流に変換するシースフローセルと、前記試料流を連続的な光によって照明する第1光源と、第1光源によって照明された粒子からの光を検出して粒子の特徴を表す粒子信号に変換する光検出素子と、前記試料流を瞬間的な光によって照明する第2光源と、第2光源によって照明された粒子を撮像して粒子像を得る撮像器と、前記粒子信号と粒子像を粒子分析用データとして粒子分析を行う分析部を備え、分析部は第2光源の発光時に得られる光検出素子からの粒子信号を粒子分析用データとして不採用とする禁止部を備えたことを特徴とする粒子分析装置。

請求項（抜粋）：

粒子含有試料を試料流に変換するシースフローセルと、前記試料流を連続的な光によって照明する第1光源と、第1光源によって照明された粒子からの光を検出して粒子の特徴を表す粒子信号に変換する光検出素子と、前記試料流を瞬間的な光によって照明する第2光源と、第2光源によって照明された粒子を撮像して粒子像を得る撮像器と、前記粒子信号と粒子像を粒子分析用データとして粒子分析を行う分析部を備え、分析部は第2光源の発光時に得られる光検出素子からの粒子信号を粒子分析用データとして不採用とする禁止部を備えたことを特徴とする粒子分析装置。

IPC (3件)：

G01N 15/14 , G01N 33/48 , G01N 33/49

FI (3件)：

G01N 15/14 B , G01N 33/48 M , G01N 33/49 A

引用特許：

審査官引用 (6件)

粒子分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-270106 出願人：東亜医用電子株式会社
粒子画像分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-359622 出願人：東亜医用電子株式会社
特開平3-194444

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