特許
J-GLOBAL ID:200903082257931074

図形処理装置および点群位置判定方法

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-369360
公開番号(公開出願番号):特開2003-168122
出願日: 2001年12月03日
公開日(公表日): 2003年06月13日
要約:
【要約】【課題】 与えられた閉領域に対する複数の点の位置関係を2つづつ同時に判定することにより、閉領域に対する複数の点の位置関係判定に要する計算コストを減らすことができる図形処理装置などを提供する。【解決手段】 2次元または3次元の閉領域に対する複数の点の位置関係を判定することができる図形処理装置において、位置関係判定対象の複数の点のなかから2点を選び出し、一方を端点、他方を通過点とする半直線を定義・生成する半直線生成部12と、定義・生成された前記半直線およびその半直線の一部である前記2点間の線分についてそれぞれ閉境域の境界との交点の数を求める交点数計算部13と、求められた2つの交点数から前記2点のそれぞれと閉領域との位置関係を求める位置判定部14とを備えた。
請求項(抜粋):
2次元または3次元の閉領域に対する複数の点の位置関係を判定することができる図形処理装置において、位置関係判定対象の複数の点のなかから2点を選び出し、一方を端点、他方を通過点とする半直線を定義する半直線定義手段と、定義された前記半直線およびその半直線の一部である前記2点間の線分についてそれぞれ閉境域の境界との交点の数を求める交点数算出手段と、求められた2つの交点数から前記2点のそれぞれと閉領域との位置関係を求める位置判定手段とを備えたことを特徴とする図形処理装置。
IPC (3件):
G06T 7/60 180 ,  G06F 17/50 610 ,  G06T 11/80
FI (3件):
G06T 7/60 180 Z ,  G06F 17/50 610 Z ,  G06T 11/80 C
Fターム (6件):
5B046FA05 ,  5B050BA18 ,  5B050CA04 ,  5B050EA07 ,  5L096FA79 ,  5L096JA11

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