特許
J-GLOBAL ID：200903082287950022
近赤外分析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-203178
公開番号（公開出願番号）：特開平10-068692
出願日： 1992年07月27日
公開日（公表日）： 1998年03月10日
要約：
【要約】【課題】サンプルの温度の吸光度の変動要因に左右されずに精度よく定量分析する必要がある。【解決手段】サンプルに対して近赤外線を照射して吸光度を測定する吸光度測定手段と、既知のサンプルについて、検量線作成用の基準吸光度および所定のサンプル温度のときの吸光度を、前記吸光度測定手段によりあらかじめ測定し、両者の吸光度のずれ量を求めるずれ量算出手段と、算出したずれ量を記憶する記憶手段と、未知のサンプルの温度を測定する温度変動特性値測定手段と、未知のサンプルについて、前記吸光度測定手段により吸光度を測定したときに、温度変動特性値測定手段に応じて、その測定吸光度を前記記憶手段に記憶するずれ量により前記基準吸光度に補正する測定吸光度補正手段と、補正した吸光度に基づき、前記検量線によりサンプル成分を分析する分析手段とを備えてなる近赤外分析装置。
請求項（抜粋）：
サンプルに対して近赤外線を照射して吸光度を測定する吸光度測定手段と、既知のサンプルについて、検量線作成用の基準吸光度および所定のサンプル温度のときの吸光度を、前記吸光度測定手段によりあらかじめ測定し、両者の吸光度のずれ量を求めるずれ量算出手段と、算出したずれ量を記憶する記憶手段と、未知のサンプルの温度を測定する温度変動特性値測定手段と、未知のサンプルについて、前記吸光度測定手段により吸光度を測定したときに、温度変動特性値測定手段に応じて、その測定吸光度を前記記憶手段に記憶するずれ量により前記基準吸光度に補正する測定吸光度補正手段と、補正した吸光度に基づき、前記検量線によりサンプル成分を分析する分析手段とを備えてなる近赤外分析装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 21/35 Z
, G01N 21/27 F
