特許

J-GLOBAL ID：200903082350617975

試験装置および試験方法

発明者： 浅見 幸司
出願人/特許権者： 株式会社アドバンテスト
代理人 (1件)： 龍華 明裕
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-143278
公開番号（公開出願番号）：特開2007-318254
出願日： 2006年05月23日
公開日（公表日）： 2007年12月06日
要約：

【課題】同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスを簡単な構成により試験する。【解決手段】複数のベースバンド信号を同一の周波数のキャリア信号により変調した複数の変調信号を出力する被試験デバイスを試験する試験装置であって、複数の変調信号のそれぞれが複数のベースバンド信号のサイクル期間内に少なくとも1回選択されるように、複数の変調信号のそれぞれを順次選択することにより、複数の変調信号を時分割多重化した時分割信号を生成する切替部と、サイクル期間内における各変調信号が含まれる部分期間のそれぞれがデジタル信号列とされた、時分割信号に応じたデジタル出力信号を生成するAD変換部と、デジタル出力信号における対応した変調信号が含まれる部分期間のデジタル信号列に基づいて、被試験デバイスが出力した複数の変調信号のそれぞれを良否判定する判定部とを備える試験装置を提供する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

複数のベースバンド信号を同一の周波数のキャリア信号により変調した複数の変調信号を出力する被試験デバイスを試験する試験装置であって、 前記複数の変調信号のそれぞれが前記複数のベースバンド信号のサイクル期間内に少なくとも1回選択されるように、前記複数の変調信号のそれぞれを順次選択することにより、前記複数の変調信号を時分割多重化した時分割信号を生成する切替部と、 前記サイクル期間内における各変調信号が含まれる部分期間のそれぞれがデジタル信号列とされた、前記時分割信号に応じたデジタル出力信号を生成するAD変換部と、 前記デジタル出力信号における対応した前記変調信号が含まれる部分期間のデジタル信号列に基づいて、前記被試験デバイスが出力した前記複数の変調信号のそれぞれを良否判定する判定部と を備える試験装置。

IPC (4件)：

H04L 27/00 ,  H04J 15/00 ,  H04B 17/00 ,  H04B 7/04

FI (4件)：

H04L27/00 A ,  H04J15/00 ,  H04B17/00 H ,  H04B7/04

Fターム (25件)：

2G132AA12 ,  2G132AB01 ,  2G132AE14 ,  2G132AG01 ,  5K004AA01 ,  5K004BB01 ,  5K022FF00 ,  5K042AA01 ,  5K042BA10 ,  5K042CA02 ,  5K042CA11 ,  5K042DA32 ,  5K042FA11 ,  5K042FA15 ,  5K042GA01 ,  5K042GA06 ,  5K042GA11 ,  5K042JA02 ,  5K042JA05 ,  5K042LA11 ,  5K059CC03 ,  5K059DD01 ,  5K059DD27 ,  5K059DD41 ,  5K059EE02

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 特許第3696379号公報