特許
J-GLOBAL ID:200903082367343828
異常陰影候補検出装置および画像処理装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
柳田 征史 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-325040
公開番号(公開出願番号):特開2002-133396
出願日: 2000年10月25日
公開日(公表日): 2002年05月10日
要約:
【要約】【課題】 モフォロジー演算を用いた異常陰影の検出処理において、本来は直線であるが、格子状の2次元デジタル画像上ではきれいな直線状に並ばないために抽出されてしまう斜め線等の線構造をも適確に保存し、所望の陰影のみをより精度高く抽出することにより、異常陰影の検出性能を向上させる。【解決手段】 モフォロジー演算処理手段10が画像読取装置等から原画像データPを入力して原画像データPに基づいて可変構造要素を用いたモフォロジー演算処理により微小石灰化陰影を抽出した画像の画像データを取得し、画像2値化手段20がモフォロジー演算処理手段10から微小石灰化陰影を抽出した画像データを入力してこの画像データを2値化し、石灰化密度算出手段30が画像2値化手段20から2値化された画像データを入力して画像中の単位面積あたりの石灰化密度を画像の部分ごとに算出し、候補領域検出手段40が石灰化密度算出手段30から石灰化密度の算出値とその位置データを入力して石灰化密度に基づき微小石灰化陰影の候補領域を検出する。
請求項(抜粋):
被写体の放射線画像を表す画像データに基づいて、該放射線画像中の異常陰影の候補領域を、構造要素を用いたモフォロジー演算処理により検出する異常陰影候補検出装置において、前記構造要素が、前記画像データに基づいて生成される可変構造要素であることを特徴とする異常陰影候補検出装置。
IPC (4件):
G06T 1/00 290
, A61B 6/00
, G06T 5/20
, G06T 7/00 150
FI (4件):
G06T 1/00 290 A
, G06T 5/20 A
, G06T 7/00 150
, A61B 6/00 350 D
Fターム (31件):
4C093AA26
, 4C093CA02
, 4C093CA21
, 4C093EB13
, 4C093EB17
, 4C093FD05
, 4C093FD11
, 4C093FF08
, 4C093FF17
, 4C093FF20
, 4C093FF28
, 4C093FF43
, 5B057AA08
, 5B057BA03
, 5B057CA08
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057CB08
, 5B057CB12
, 5B057CB16
, 5B057CC02
, 5B057CE06
, 5B057DA08
, 5B057DB02
, 5B057DB08
, 5B057DC04
, 5L096BA06
, 5L096BA13
, 5L096EA43
, 5L096FA59
, 5L096GA55
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