特許

J-GLOBAL ID：200903082406107665

性能評価装置

発明者： 秋山 満夫
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 今村 辰夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-270133
公開番号（公開出願番号）：特開平7-121409
出願日： 1993年10月28日
公開日（公表日）： 1995年05月12日
要約：

【要約】【目的】 本発明は性能評価装置に関し、性能低下による応答の遅延、或いは、性能に関する装置障害、例えば、素子劣化等のハードウェア障害や、リトライ多発等の状態等も十分に検証できるようにすることを目的とする。【構成】 被テスト装置に対し、テストプログラムによりテスト対象となるオペレーションを実行させ、その実行時間を測定するテスト実行部10と、テスト実行部10により、予め測定したテストプログラムの実行時間を標準実行時間として記憶し保存しておく標準実行時間記憶部12と、テスト実行部10が測定したデータを基に、測定結果の評価を行う評価部11を設け、テスト実行部10が、実行時間を測定した際、評価部11では、測定した実行時間を標準実行時間と比較して、GOOD、WARNING、ERRORの3段階の評価を行い、評価結果を表示するように構成する。

請求項（抜粋）：

コンピュータの入出力装置(8)を被テスト装置としてテストを行い、その性能を評価する性能評価装置において、被テスト装置に対し、テストプログラムにより、テスト対象となるオペレーション(入出力動作)を実行させ、その「実行時間」を測定するテスト実行部(10)と、テスト実行部(10)により、予め測定したテストプログラムの「実行時間」を、「標準実行時間」として記憶し保存しておく標準実行時間記憶部(12)と、テスト実行部(10)が測定したデータを基に、測定結果の評価を行う評価部(11)を設け、テスト実行部(10)が、評価対象の被テスト装置に対し、テストプログラムにより、テスト対象となるオペレーションを実行させて、その「実行時間」を測定した際、評価部(11)では、前記測定した「実行時間」を、保存されている前記「標準実行時間」と比較して評価を行うことを特徴とした性能評価装置。

IPC (2件)：

G06F 11/34 ,  G06F 11/28 340