特許
J-GLOBAL ID：200903082411069194
三次元形状計測装置の校正方法及び校正装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高橋 勇
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-349952
公開番号（公開出願番号）：特開平11-166818
出願日： 1997年12月04日
公開日（公表日）： 1999年06月22日
要約：
【要約】【課題】 校正の精度向上を課題とする。【解決手段】 測定対象物に対してパターン光を照射する照射機構110と、測定対象物を撮像するカメラ120と、撮像画像から三次元画像データを算出する算出手段130とを備える三次元形状計測装置100の校正方法において、一平面21上に既知の配置で複数の指標22を付したゲージ2を、既知の移動量で複数回移動させ、この移動ごとにゲージ2の一平面21に照射光を照射し撮像して、各指標21により示される三次元座標系上の位置座標とこれら位置座標に対応する撮像画像の二次元座標系上の位置座標とからカメラパラメータを求めると共に、この三次元座標系上の位置座標とこれら位置座標の位置を照射する一次元座標系上の位置座標とからプロジェクタパラメータを求める。
請求項（抜粋）：
測定対象物に対して一定の一次元方向について位置座標を付するための照射光を照射する照射機構と、前記照射光を照射された測定対象物を撮像するカメラと、このカメラによる撮像画像から測定対象物の三次元画像データを算出する算出手段とを備える三次元形状計測装置であって、前記算出手段における三次元画像データを作成するための、カメラ座標系の位置座標と前記測定対象物の実際の物体座標系の位置座標との関連を示すカメラパラメータと,前記照射光により付する位置座標と前記測定対象物の実際の物体座標系の位置座標との関連を示すプロジェクタパラメータとを実測により特定する三次元形状計測装置の校正方法において、平滑な一平面上に既知の配置で複数の指標を付したゲージを、前記カメラに正対して配置し、このゲージを前記一平面と垂直な方向に既知の移動量で複数回移動させ、この移動ごとに前記ゲージの一平面に前記照射機構により照射光を照射すると共に当該一平面を前記カメラにより撮像し、前記各指標により示される三次元座標系上の位置座標とこれら位置座標に対応する前記撮像画像の二次元座標系上の位置座標とから前記カメラパラメータを求めると共に、前記各指標により示される三次元座標系上の位置座標とこれら位置座標の位置を照射する一次元座標系上の位置座標とから前記プロジェクタパラメータを求めることを特徴とする三次元形状計測装置の校正方法。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G01B 11/24 K
, G01B 11/24 C
, G06F 15/62 415
