特許
J-GLOBAL ID：200903082446602634
光部品自動測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
小林 正治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-180901
公開番号（公開出願番号）：特開平7-083795
出願日： 1993年06月25日
公開日（公表日）： 1995年03月31日
要約：
【要約】【目的】 挿入損失と反射減衰量を同じ測定系で測定でき、構成が簡潔で、作業性が良く、効率良く測定できるようにする。【構成】 光源1、光部品2の入力側ポートと複数心単位で切り替え接続可能な入力側ヘッド部3、光部品2の出力側ポートと複数心単位で切り替え可能な出力側ヘッド部4、出力側ヘッド部4からの出力光を測定する出力光受光器5、光部品2からの反射光を取り出すカプラ6、同カプラ6により取り出された反射光を受ける反射光受光器7、入力側ヘッド部3及び出力側ヘッド部4の切替え、試験槽10の温度等の制御を行うコンピュータ11を設けた。光源1を異なる波長光を発光可能な2チャンネルのものにした。出力側可動ヘッド23の出力側接続端部9を斜めに成形した。
請求項（抜粋）：
光源1、検査される光部品2の入力側ポートと複数心単位で切り替え可能な入力側ヘッド部3、同光部品2の出力側ポートと複数心単位で切り替え可能な出力側ヘッド部4、同出力側ヘッド部4からの出力光を受ける出力光受光器5、光部品2からの反射光を取り出すカプラ6、同カプラ6により取り出された反射光を受ける反射光受光器7を備えたことを特徴とする光部品自動測定装置。
IPC (4件)：
G01M 11/00
, H01L 21/301
, H01L 33/00
, B65H 43/08
