特許
J-GLOBAL ID:200903082457602865
超音波撮像方法および装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
井島 藤治 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-177104
公開番号(公開出願番号):特開2000-005173
出願日: 1998年06月24日
公開日(公表日): 2000年01月11日
要約:
【要約】【課題】 計測用の撮像を能率良く行なう超音波撮像方法および装置を実現する。【解決手段】 計測に適した撮像を行なうための撮像条件を計測項目ごとにメモリ186にデータベースとして記憶し、計測項目が同じ画像を撮像するときはプロセッサ184で読み出して再利用する。撮像条件は撮像時に調節したものに更新される。
請求項(抜粋):
超音波を用いて計測用の画像を撮像する超音波撮像方法であって、前記撮像を行なうための設定条件を計測項目ごとに記憶し、前記記憶した設定条件を指定された計測項目に対応して読み出し、前記読み出した設定条件の下で撮像を行なう、ことを特徴とする超音波撮像方法。
IPC (2件):
FI (2件):
A61B 8/00
, G06F 15/62 390 D
Fターム (26件):
4C301AA02
, 4C301BB01
, 4C301BB02
, 4C301CC02
, 4C301DD02
, 4C301DD21
, 4C301EE13
, 4C301EE20
, 4C301GB06
, 4C301HH38
, 4C301HH52
, 4C301HH60
, 4C301JB11
, 4C301JB13
, 4C301KK01
, 4C301KK24
, 4C301KK27
, 4C301KK31
, 4C301LL02
, 4C301LL04
, 4C301LL05
, 4C301LL06
, 5B057AA07
, 5B057BA05
, 5B057DA20
, 5B057DC03
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