特許
J-GLOBAL ID：200903082478639394
半導体装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
深見 久郎 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-324606
公開番号（公開出願番号）：特開平5-160345
出願日： 1991年12月09日
公開日（公表日）： 1993年06月25日
要約：
【要約】【構成】 装置の本来の機能を果たす機能回路200と、装置の出荷前の検査のためにのみ設けられた検査用制御回路300と、検査用制御回路300に外部信号を入力するための検査用入力回路900aとを有する半導体装置において、この装置の検査後、検査用制御回路300がパッド1から電気的に切離されるとともに、非活性状態に固定されるように、検査用入力回路900aが、ヒューズ2およびダイオード3と、検査用制御回路300への出力電位を固定するためのトランジスタ4とを含んで構成される。【効果】 出荷前の検査後、半導体集積回路装置がパッド1への入力電位にかかわらず、正常に通常動作を行なう。
請求項（抜粋）：
検査時に使用される外部ピンを有する半導体装置であって、前記半導体装置の本来の機能を実現する機能回路手段と、前記機能回路手段の動作を、前記検査のために制御する制御手段と、前記検査時に前記外部ピンに供給された外部信号に応答して、前記制御手段を活性化する活性化手段と、前記活性化手段を、前記検査終了後に、前記外部ピンから電気的に切離す切離し手段とを備えた、半導体装置。
IPC (4件)：
H01L 27/04
, G01R 31/26
, G01R 31/28
, H01L 21/66
