特許
J-GLOBAL ID：200903082512318489
電子部品の抵抗測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
筒井 秀隆
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-348616
公開番号（公開出願番号）：特開平11-023630
出願日： 1997年12月02日
公開日（公表日）： 1999年01月29日
要約：
【要約】【課題】容量が小さい電子部品でも、確実に接触検出が行なえる電子部品の絶縁抵抗測定装置を提供する。【解決手段】ターンテーブル20の保持溝21に被測定電子部品(コンデンサ)5を保持し、保持溝21の底面に接触電極13a,13bを設けるとともに、ターンテーブル20の裏面に接触電極13a,13bと接続されたダミーコンデンサ12を固定する。測定端子7a,7bをコンデンサ5の電極に接触させ、交流信号を印加してその出力から接触検出を行なう。接触検出後、測定端子7a,7bから直流電圧を印加し、その漏れ電流を検出することによりコンデンサ5の絶縁抵抗を求める。
請求項（抜粋）：
電子部品の電極に測定端子を接触させ、電子部品に流れる電流を検出することにより電子部品の抵抗値を測定する装置において、上記電子部品の電極に、接触検出に必要な静電容量を持つダミーコンデンサの電極を接触可能とし、上記測定端子を電子部品の電極に接触させると同時に、ダミーコンデンサの電極を電子部品の電極に接触させ、電子部品とダミーコンデンサとの並列回路に流れる電流を検出するようにした電子部品の抵抗測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R 27/02 R
, G01R 31/00
