特許

J-GLOBAL ID：200903082519240167

スキャナ装置

発明者： 百合野 以子 ,  山本 顕次 ,  奈須 永典
出願人/特許権者： 日立ソフトウエアエンジニアリング株式会社
代理人 (1件)： 南野 貞男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-193397
公開番号（公開出願番号）：特開平11-023529
出願日： 1997年07月04日
公開日（公表日）： 1999年01月29日
要約：

【要約】【課題】 蛍光法と化学発光法の双方の分析方法からの試料の発光パターンを共に読み取ることができるスキャナ装置を提供する。【解決手段】 平板状に展開された試料の発光パターンを走査して読み取るラインセンサを用いるスキャナ装置は、読み取り対象の試料を載置するステージと、前記試料の発光パターンの光を受光する位置を一次元的に集光するラインセンサと、前記ステージとラインセンサを相対的に移動させる移動機構と、前記ラインセンサにより集光された試料の発光パターンを走査して受光し、受光した光信号を電気信号に変換する受光部走査装置と、前記受光部走査装置からの電気信号をディジタル信号に変換してデータ処理を行うデータ処理装置とを備える。また、蛍光物質を励起して発光する発光パターンを読み取る場合に対して、更に、レーザ光を発光する光源と、試料に対してレーザ光を走査して照射するレーザ光走査装置とを備える。

請求項（抜粋）：

平板状で発光する試料の発光パターンを走査して読み取るラインセンサを用いるスキャナ装置であって、読み取り対象の試料を載置するステージと、前記試料の発光パターンの光を受光する位置を一次元的に集光するラインセンサと、前記ステージとラインセンサを相対的に移動させる移動機構と、前記ラインセンサにより集光された試料の発光パターンを走査して受光し、受光した光信号を電気信号に変換する受光部走査装置と、前記受光部走査装置からの電気信号をディジタル信号に変換してデータ処理を行うデータ処理装置とを備えることを特徴とするスキャナ装置。

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 試料パターン読み取り装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-085708   出願人：日立ソフトウエアエンジニアリング株式会社
• スキャナ装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-278379   出願人：日立ソフトウエアエンジニアリング株式会社
• 特開平4-223261
  
• 蛍光検出電気泳動装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-242593   出願人：株式会社日立製作所