特許
J-GLOBAL ID:200903082588970193
勾配磁場計測方法およびMRI装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
有近 紳志郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-262927
公開番号(公開出願番号):特開2001-078986
出願日: 1999年09月17日
公開日(公表日): 2001年03月27日
要約:
【要約】【課題】 勾配磁場を正確に計測する。【解決手段】 プリエンコードパルスPkを印加し、計測対象の勾配波形のエンコードパルスGeを印加しながらFID信号からデータS(k,1)〜S(k,T)を収集することを、プリエンコードパルスPkの大きさを変えてK回繰り返し、収集したデータS(1,1)〜S(1,T),S(2,1)〜S(2,T),...,S(K,1)〜S(K,T)より、位相差Δφを角度に持つデータD(1,1)〜D(1,T-1),D(2,1)〜D(2,T-1),...,D(K,1)〜D(K,T-1)を求め、前記エンコードパルスGeの大きさが対応するデータ同士を加算して加算データd(1)〜d(T-1)を求め、その加算データd(1)〜d(T-1)から勾配磁場差ΔG(1)〜ΔG(T-1)を求め、その勾配磁場差ΔG(1)〜ΔG(T-1)を積算して勾配磁場G(1)〜G(T-1)を求める。【効果】 サンプル内で生じる位相ずれによるFID信号の減少を補償した全体的にSNRのよいデータが得られるため、勾配磁場を正確に計測できる。
請求項(抜粋):
1つのFID信号からデータをサンプリングする回数をTとし、2以上の自然数をKとするとき、励起RFパルスを印加し、プリエンコードパルスPkを印加し、計測対象の勾配波形のエンコードパルスGeを印加しながらFID信号からデータS(k,1)〜S(k,T)を収集することを、前記プリエンコードパルスPkの大きさを変えてK回繰り返し、収集したデータS(1,1)〜S(1,T),S(2,1)〜S(2,T),...,S(K,1)〜S(K,T)より、位相差Δφを角度に持つデータD(1,1)〜D(1,T-1),D(2,1)〜D(2,T-1),...,D(K,1)〜D(K,T-1)を求め、前記エンコードパルスGeの大きさが対応するデータ同士を加算して加算データd(1)〜d(T-1)を求め、その加算データd(1)〜d(T-1)から勾配磁場差ΔG(1)〜ΔG(T-1)を求め、その勾配磁場差ΔG(1)〜ΔG(T-1)を積算して勾配磁場G(1)〜G(T-1)を求めることを特徴とする勾配磁場計測方法。
IPC (2件):
FI (3件):
A61B 5/05 341
, G01N 24/06 530 M
, G01N 24/06 530 Y
Fターム (6件):
4C096AB33
, 4C096AB50
, 4C096AD06
, 4C096BA03
, 4C096BA50
, 4C096DA30
引用特許:
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