特許
J-GLOBAL ID：200903082601198640
歪み測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
森本 義弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-026287
公開番号（公開出願番号）：特開平11-223513
出願日： 1998年02月09日
公開日（公表日）： 1999年08月17日
要約：
【要約】【課題】狭い範囲の歪みを精度良く検出する。【解決手段】ゲージ本体2を、光ファイバにより、光パルスの透過減衰量が極めて少ない湾曲半径の湾曲部11と、計測ゲージ長Lに形成された直線計測部12とで、直線計測部12が互いに平行に配置される周回経路13を形成して、平面上でこの周回経路13を位置ずれして複数回巻回することにより、湾曲部11と直線計測部12の合計長さがこの光ファイバによる平均歪みを計測可能な直線固有ゲージ長以上となるように構成し、前記直線計測部12を歪み方向に沿うようにゲージ本体2を被計測物の計測平面1に固定した。
請求項（抜粋）：
歪み計測器により被計測物に固定した光ファイバに光パルスを入力し、光ファイバの歪みにより生じる光パルスの後方散乱光を測定して被計測物の歪みを検出する光ファイバを使用した歪み測定装置であって、ゲージ本体を、光ファイバにより、光パルスの透過減衰量が極めて少ない湾曲半径の湾曲部と、計測ゲージ長に形成された直線計測部とで、直線計測部が互いに平行に配置される周回経路を形成して、平面上でこの周回経路を位置ずれして複数回巻回することにより、湾曲部と直線計測部の合計長さがこの光ファイバによる平均歪みを計測可能な直線固有ゲージ長以上となるように構成し、前記直線計測部を歪み方向に沿うように被計測物の計測平面に固定したことを特徴とする歪み測定装置。
IPC (3件)：
G01B 11/16
, G01L 1/24
, G02B 6/00
G01B 11/16 Z
, G01L 1/24
, G02B 6/00 B
