特許

J-GLOBAL ID：200903082631655400

工業製品の目視検査支援装置

発明者： 鈴木正則
出願人/特許権者： 株式会社 日立技研
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-248576
公開番号（公開出願番号）：特開2004-085436
出願日： 2002年08月28日
公開日（公表日）： 2004年03月18日
要約：

【課題】他検査装置からの諸情報を活用して、電子回路部品等の不良個所を容易に探し出し、確認作業を同じ操作で行い、確実に目視検査する。【解決手段】検査対象を異なる方向からそれぞれ撮影する少なくとも第一のカメラと第2のカメラとからなるカメラユニットを有する工業製品の目視検査支援装置において、他検査装置の検査結果等を収集し、検査結果データを作成する検査結果収集及び検査結果データ作成手段と、上記他検査装置の既に判明している不良個所を追跡する不良個所追跡手段とを備え、上記検査結果収集及び検査結果データ作成手段で収集した検査結果等を上記不良個所追跡手段に提供し、上記検査結果収集及び検査結果データ作成手段で作成した上記検査結果データに従って上記カメラユニットを駆動する。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

検査対象を異なる方向からそれぞれ撮影する少なくとも第1のカメラと第2のカメラとからなるカメラユニットと、上記検査対象を必要に応じて上記カメラユニットに対して相対的に三次元方向の少なくとも一方向に移動させる移動手段と、上記カメラユニットで撮影した画像信号を選択的に再生する画像モニタと、上記検査対象の要検査部位を予め設定した順序と撮影モードで撮影して上記画像モニタで再生するように制御する制御装置と、この制御装置に撮影の進行の指示を与える指示装置とからなる工業製品の目視検査支援装置において、 この工業製品の目視検査支援装置は、さらに他検査装置の検査結果等を収集し、検査結果データを作成する検査結果収集及び検査結果データ作成手段と、上記他検査装置の既に判明している不良個所を追跡する不良個所追跡手段とを備え、上記検査結果収集及び検査結果データ作成手段で収集した検査結果等を上記不良個所追跡手段に提供し、上記検査結果収集及び検査結果データ作成手段で作成した上記検査結果データに従って上記カメラユニットを駆動することを特徴とする工業製品の目視検査支援装置。

IPC (4件)：

G01N21/84 ,  G01N21/956 ,  H05K3/34 ,  H05K13/08

FI (4件)：

G01N21/84 D ,  G01N21/956 B ,  H05K3/34 512B ,  H05K13/08 U

Fターム (13件)：

2G051AA65 ,  2G051AB14 ,  2G051CA04 ,  2G051CA07 ,  2G051DA08 ,  2G051EA12 ,  2G051EA14 ,  2G051EA21 ,  2G051FA01 ,  5E319AC01 ,  5E319CC22 ,  5E319CD53 ,  5E319GG15