特許
J-GLOBAL ID:200903082662051219

画像解析方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 川崎 隆夫 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-311145
公開番号(公開出願番号):特開平6-259559
出願日: 1993年11月17日
公開日(公表日): 1994年09月16日
要約:
【要約】【目的】 各タイプの組織の大きさを正確に求めることが可能である。【構成】 異なる組織タイプ間でそれぞれコントラストが異なる2種の画像S1,S2を患者から得て、2種の画像S1,S2の2次元特徴空間ヒストグラムを作り、特徴空間ヒストグラム上において、一対の組織タイプA,Bについて、それぞれ中心点を決定する。特徴空間において、一方の軸が2つの中心点A,Bを通るようなカーテシアン座標系を定め、ベクトル分解を用いて、特徴空間の各画像要素データを一方の軸上の点に射影する。次いで、一方の軸の上記点から各中心点A,Bまでの距離に基づいて画像要素内の各組織タイプの部分量を決定する。原画像の各要素について、部分量を求めて、一対の組織画像を形成する。組織画像の各要素をこのように処理して、患者の画像において、所定の組織タイプの量を測定することができる。
請求項(抜粋):
対象物の登録画像を解析する画像解析方法において、(a) 各々が二次元配列の画像要素からなる対象物のX(X:複数)個の画像を獲得し、(b) 第1および第2の画像の画像要素の強度レベルのX次元特徴空間ヒストグラムを生成し、(c) 複数の画像の第1の特徴に対応する第1の中心点を特徴空間ヒストグラムにおいて決定し、(d) 複数の画像の第2の特徴に対応する第2の中心点を特徴空間ヒストグラムにおいて決定し、(e) 1つの軸が第1および第2の中心点を通るカーテシアン座標系を特徴空間ヒストグラム内に定め、(f) 所定の画像要素と関連した特徴空間ヒストグラムの位置を画定するベクトルを、前記軸に沿った成分ベクトルに分解し、(g) 所定の画像要素の第1の特徴の部分量を前記成分ベクトルから決定し、(h) 第1の特徴画像の1つの要素の値を第1の特徴の部分量に設定し、(i) 前記1つの画像内の複数の画像要素について、上記(f)乃至(h)の処理を繰り返し、(j) 第1の特徴画像の要素から第1の特徴の物理的パラメータの測定値を導き出すことを特徴とする画像解析方法。
IPC (4件):
G06F 15/70 400 ,  G06F 15/70 325 ,  A61B 5/055 ,  G06F 15/62 390

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