特許
J-GLOBAL ID:200903082730551900
波長可変半導体レーザにおけるエージング
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
岡部 正夫 (外11名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-288062
公開番号(公開出願番号):特開2002-158400
出願日: 2001年09月21日
公開日(公表日): 2002年05月31日
要約:
【要約】【課題】 エージングに起因する波長ドリフトを補償することができる方法およびシステムを提供すること。【解決手段】 1つのプロセスが、分布ブラッグ反射器(DBR)レーザのエージング特性を評価する。そのプロセスは、DBRレーザに同調電流が供給されているが、レーザが放射されていない間に、分布ブラッグ反射器(DBR)レーザのブラッグ回折格子を光で照明するステップを含む。また、そのプロセスは、ブラッグ回折格子によって反射される光の部分におけるブラッグピークの波長と、その照明中に供給される同調電流の値とに応じて、DBRレーザに対して1つの動作を実行するステップも含む。
請求項(抜粋):
分布ブラッグ反射器(DBR)レーザに同調電流が供給されているが、レーザを放射していない間に、前記DBRレーザのブラッグ回折格子を照明するステップと、前記ブラッグ回折格子によって反射される光の部分におけるブラッグピークの波長と、前記照明するステップ中に供給される前記同調電流の値とに応じて、前記DBRレーザ上で、1つの動作を実行するステップとを含むプロセス。
IPC (3件):
H01S 5/125
, G01R 31/26
, H01S 5/00
FI (3件):
H01S 5/125
, G01R 31/26 F
, H01S 5/00
Fターム (16件):
2G003AA06
, 2G003AB00
, 2G003AC01
, 2G003AD00
, 2G003AH00
, 2G003AH05
, 5F073AA12
, 5F073AA64
, 5F073AB06
, 5F073BA01
, 5F073DA16
, 5F073EA04
, 5F073HA04
, 5F073HA07
, 5F073HA08
, 5F073HA11
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