特許
J-GLOBAL ID:200903082759292938

コンデンサの測定端子接触検出方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 筒井 秀隆
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-322186
公開番号(公開出願番号):特開平11-142451
出願日: 1997年11月06日
公開日(公表日): 1999年05月28日
要約:
【要約】【課題】接触検出が困難であった小容量のコンデンサの接触検出を感度よく行なえるコンデンサの測定端子接触検出方法を提供する。【解決手段】コンデンサ7に接触する測定端子5に直列にインダクタ3を接続し、正弦波信号発生器1から交流信号をインダクタ3,測定端子5を介してコンデンサ7に印加する。測定端子5をコンデンサ7に接触させない状態で、正弦波信号発生器1の交流信号の周波数を変化させ、インダクタ3と測定系の容量とを共振させ、その時のインピーダンスまたは位相を測定する。次に、測定端子5をコンデンサ7に接触させた状態でインダクタンスおよび周波数を共振時と同一条件とし、インピーダンスまたは位相を測定する。上記測定されたインピーダンスまたは位相と、共振時に測定されたインピーダンスまたは位相とを比較して、測定端子5の接触状態を判定する。
請求項(抜粋):
コンデンサに接触する測定端子に直列にインダクタを接続し、正弦波信号発生器から交流信号をインダクタ,測定端子を介してコンデンサに印加するとともに、上記インダクタのインダクタンスまたは正弦波信号発生器の交流信号の周波数を可変とした測定装置であって、上記測定端子をコンデンサに接触させない状態で、インダクタのインダクタンスまたは正弦波信号発生器の交流信号の周波数を変化させ、インダクタと測定系の容量とを共振させる第1の工程と、インダクタのインダクタンスおよび正弦波信号発生器の交流信号の周波数を第1の工程と同一条件とし、上記測定端子をコンデンサに接触させた状態でインピーダンスまたは位相を測定する第2の工程と、第2の工程で測定されたインピーダンスまたは位相によって、測定端子の接触状態を判定する第3の工程と、を有することを特徴とするコンデンサの測定端子接触検出方法。
IPC (3件):
G01R 27/20 ,  G01R 31/00 ,  G01R 31/02
FI (3件):
G01R 27/20 ,  G01R 31/00 ,  G01R 31/02

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