特許
J-GLOBAL ID:200903082775315689

高分子分析装置および高分子分析方法

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-120804
公開番号(公開出願番号):特開2005-300480
出願日: 2004年04月15日
公開日(公表日): 2005年10月27日
要約:
【課題】 高分子を切断して質量分析を行う場合に、切断される箇所を変化させることにより、種々のフラグメントを得、これを質量分析することにより、効率的に高分子を分析することができる装置を提供する。【解決手段】 波長可変の赤外線レーザー出力部と、イオン化された試料を保持するイオントラップ部と、前記イオントラップ部に保持された試料の質量分析を行う質量分析部と、を備え、前記赤外線レーザー出力部から出力されたレーザーは、前記イオントラップ部に保持された試料に照射され、前記照射されたレーザーによって試料が切断されることを特徴とする、高分子の分析装置を用いる。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
イオン化された試料を保持するイオントラップ部と、 前記イオントラップ部に保持されたイオン化された前記試料に、波長可変の赤外線レーザーを照射して前記試料を切断する赤外線レーザーを出力するレーザー出力部と、 前記赤外線レーザーにより切断された前記試料の質量分析を行なう質量分析部と、 を備えることを特徴とする、高分子分析装置。
IPC (1件):
G01N27/62
FI (1件):
G01N27/62 V
引用文献:
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (7件)
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