特許

J-GLOBAL ID：200903082814030867

光学式変位測定装置

発明者： 山根 俊樹 ,  高田 裕司 ,  松田 啓史 ,  杉本 義彦
出願人/特許権者： 松下電工株式会社
代理人 (1件)： 中井 宏行
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-313534
公開番号（公開出願番号）：特開平5-126566
出願日： 1991年10月31日
公開日（公表日）： 1993年05月21日
要約：

【要約】【目的】 光学式変位測定装置において、光学ヘッドの受光部より出力される受光量のゲインを、ユーザの熟練度や対象物に応じて最適な3つの調整モードから選択して実行出来るようにする。【構成】 投光部101と受光部102とを備えた光学ヘッド100が、信号線300を介してコントローラ10に接続された構成とされ、光学ヘッド100の受光部102によって受光される受光信号の受光ゲインを可変する受光ゲイン可変回路21と、受光ゲインを自動調整モード、半自動調整モード、手動調整モードに選択設定する受光ゲインモードキーSa,Sb,Scを有した受光ゲイン設定手段と、上記受光ゲインモードキーによって、選択設定されたモードに応じて、上記受光ゲイン可変回路21のゲインを制御する信号処理部20とを、コントローラ10側に備えた構成となっている。

請求項（抜粋）：

対象物に対して光を照射するための投光部と、対象物より反射された光を受光する受光部とを備えた光学ヘッドと、この光学ヘッドに信号線を介して接続され、光学ヘッドから出力される位置検出信号に応じた変位量を演算処理して、測距データを表示出力させるコントローラとを組み合わせて構成された光学式変位測定装置において、上記コントローラには、光学ヘッドの受光部によって受光される受光信号の受光ゲインを可変する受光ゲイン可変回路と、受光ゲインを自動調整モード、半自動調整モード、手動調整モードに選択設定する受光ゲインモード選択設定スイッチを有した受光ゲインモード設定手段と、上記受光ゲインモード選択設定スイッチの操作によって、選択設定されたモードに応じて、上記受光ゲイン可変回路を制御する信号処理部とを備えたことを特徴とする光学式変位測定装置。

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平1-202614
  
• 特開昭63-236916
  
• 特公平2-033337
  
• 特開昭58-172938