特許

J-GLOBAL ID：200903082844158540

磁気共鳴力顕微鏡

発明者： 吉成 洋祐
出願人/特許権者： 日本電子株式会社
代理人 (1件)： 阿部 龍吉 (外7名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-210073
公開番号（公開出願番号）：特開2003-028773
出願日： 2001年07月11日
公開日（公表日）： 2003年01月29日
要約：

【要約】【課題】 共鳴領域内での磁場勾配値を一定にし、測定された磁気共鳴力が既知の幾何学的共鳴領域内の電子スピン数にのみ比例するような磁場強度分布を生成できるようにする。【解決手段】 試料に対してカンチレバーの先端に装着した磁気チップと外部磁石により静磁場を与え、高周波コイルにより高周波磁場を照射して磁気共鳴力強度を観察する磁気共鳴力顕微鏡において、磁場及び磁場勾配の空間分布曲面が特定された磁気チップ、中心対称軸を含む断面で該中心対称軸との外形角度が先端方向に向かい徐々に小さくなった磁気チップをカンチレバーの先端に装着し、共鳴領域内での磁場勾配値を一定にし、測定された磁気共鳴力が既知の幾何学的共鳴領域内の電子スピン数にのみ比例するような磁場強度分布を生成できるようにする。

請求項（抜粋）：

試料に対してカンチレバーの先端に装着した磁気チップと外部磁石により静磁場を与え、高周波コイルにより高周波磁場を照射して磁気共鳴力強度を観察する磁気共鳴力顕微鏡において、磁場及び磁場勾配の空間分布曲面が特定された磁気チップをカンチレバーの先端に装着したことを特徴とする磁気共鳴力顕微鏡。

IPC (7件)：

G01N 13/10 ,  A61B 5/055 ,  G01N 13/16 ,  G01N 24/00 ,  G01N 24/10 510 ,  G01R 33/34 ,  G12B 21/10

FI (7件)：

G01N 13/10 H ,  G01N 13/16 A ,  G01N 24/10 510 Y ,  A61B 5/05 400 ,  G01N 24/00 Z ,  G01N 24/04 520 Y ,  G12B 1/00 601 E

Fターム (6件)：

4C096AA18 ,  4C096AB50 ,  4C096AC10 ,  4C096AD10 ,  4C096CC40 ,  4C096DC22