特許
J-GLOBAL ID:200903082858569402
金属材表面のゼータ電位測定方法およびゼータ電位測定装置、金属材の表面特性の評価方法
発明者:
,
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
梶 良之
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-073625
公開番号(公開出願番号):特開2001-264282
出願日: 2000年03月16日
公開日(公表日): 2001年09月26日
要約:
【要約】【課題】 金属材表面の正確なゼータ電位を測定可能とするゼータ電位測定方法およびゼータ電位測定装置を提供すること、そして、これらのゼータ電位測定に基づく金属材の表面特性の評価方法を提供することを目的とする。【解決手段】 誘電率を一定にする電解質を含む水溶液C をセル1 内に収容し、該水溶液C に金属材X を接触させるとともに、ゼータ電位が既知の帯電させたモニター粒子B を前記水溶液中に配し、金属材が接触していない水溶液中と金属材が接触している水溶液C 中とのモニター粒子B の移動速度の変化から、この移動速度の変化に対応したゼータ電位を金属材表面のゼータ電位として測定する方法であって、金属材X の水溶液接触側表面の一部を絶縁することによって、水溶液中のモニター粒子B を帯電せしめ、水溶液中のモニター粒子B の前記移動速度の変化を検出することである。
請求項(抜粋):
誘電率を一定にする電解質を含む水溶液をセル内に収容し、該水溶液に金属材を接触させるとともに、ゼータ電位が既知の帯電させたモニター粒子を前記水溶液中に配し、金属材が接触していない水溶液中と金属材が接触している水溶液中とのモニター粒子の移動速度の変化から、この移動速度の変化に対応したゼータ電位を金属材表面のゼータ電位として測定する方法であって、金属材の水溶液接触側表面の一部を絶縁することによって、水溶液中のモニター粒子を帯電せしめ、水溶液中のモニター粒子の前記移動速度の変化を検出することを特徴とする金属材表面のゼータ電位測定方法。
IPC (2件):
FI (3件):
G01N 27/26 P
, G01N 33/20 N
, G01N 33/20 G
Fターム (3件):
2G055AA01
, 2G055BA09
, 2G055FA06
前のページに戻る