特許

J-GLOBAL ID：200903082892918912

FBG歪センサシステム

発明者： 斉藤 崇記
出願人/特許権者： アンリツ株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-120031
公開番号（公開出願番号）：特開2006-300609
出願日： 2005年04月18日
公開日（公表日）： 2006年11月02日
要約：

【課題】波長可変光源を往復掃引させ、その掃引方向の違いによって生じる波長ずれの差を検出することによって、例えFBGまでの光路長が不明な場合であっても測定対象の歪み測定を高速かつ正確に行えるとともに、FBGまでの光路長の測定をも可能にしたFBG歪センサシステムを提供する。【解決手段】波長可変光源10が短波から長波へ掃引している期間に受光器14から出力される電気信号bと波長可変光源10の発振波長からFBG13a〜cの反射波長を第1の仮の反射波長λTUとして測定し、かつ、波長可変光源10が長波から短波へ掃引している期間に受光器14から出力される電気信号bと波長可変光源10の発振波長からFBG13a〜cの反射波長を第2の仮の反射波長λTDとして測定して、この第1の仮の反射波長λTU及び第2の仮の反射波長λTDと波長可変光源10の発振波長の掃引特性とに基づいてFBG13a〜cの反射波長λFを求める。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

歪みの測定対象に設けられたFBG(13a〜13c)と、 所定の波長範囲の光を発振し、該光を測定光として前記FBGに入射させる波長可変光源(10)と、 前記FBGに入射された前記測定光であって、該FBGによって反射された光又は該FBGを透過した光を受けて第1の電気信号に変換する第1の受光器(14)と、 該第1の受光器から出力される前記第1の電気信号と前記波長可変光源の発振波長から前記FBGの反射波長を測定して当該FBGに加わった歪み量を求める処理手段(20)とを備えたFBG歪センサシステムにおいて、 前記波長可変光源は、 前記所定の波長範囲を含んで短波から長波へかつ長波から短波へ所定の掃引周期で光を発振し、該光を前記測定光として前記FBGに入射させ、 前記処理手段は、 前記波長可変光源が前記所定の波長範囲を含んで短波から長波へ掃引している期間に前記第1の受光器から出力される前記第1の電気信号と当該波長可変光源の発振波長から前記FBGの反射波長を第1の仮の反射波長λTUとして測定し、かつ、前記波長可変光源が前記所定の波長範囲を含んで長波から短波へ掃引している期間に前記第1の受光器から出力される前記第1の電気信号と当該波長可変光源の発振波長から前記FBGの反射波長を第2の仮の反射波長λTDとして測定し、さらに、測定した前記第1の仮の反射波長λTU及び前記第2の仮の反射波長λTDに基づいて、前記波長可変光源から前記FBGまで及び該FBGから前記第1の受光器までの光路長に起因して発生する、前記FBGの反射波長の測定時の波長ずれを含まない当該FBGの反射波長λFを求めることを特徴とするFBG歪センサシステム。

IPC (2件)：

G01B 11/16 ,  G01D 5/353

FI (2件)：

G01B11/16 G ,  G01D5/26 D

Fターム (40件)：

2F065AA06 ,  2F065AA22 ,  2F065AA65 ,  2F065CC23 ,  2F065DD06 ,  2F065FF41 ,  2F065FF48 ,  2F065GG06 ,  2F065GG25 ,  2F065HH03 ,  2F065JJ18 ,  2F065LL00 ,  2F065LL02 ,  2F065LL04 ,  2F065LL11 ,  2F065LL13 ,  2F065LL42 ,  2F065LL62 ,  2F065LL67 ,  2F065NN06 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ17 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ29 ,  2F065QQ44 ,  2F065RR06 ,  2F065RR09 ,  2F103BA41 ,  2F103BA43 ,  2F103CA04 ,  2F103EB02 ,  2F103EB05 ,  2F103EB12 ,  2F103EC03 ,  2F103EC04 ,  2F103EC09 ,  2F103EC17 ,  2F103ED11 ,  2F103ED27

引用特許：

出願人引用 (1件)

• FBGセンシングシステム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-296505   出願人：京セラ株式会社