特許
J-GLOBAL ID：200903082896758847
粒度分布測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
福村 直樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-073889
公開番号（公開出願番号）：特開平5-273114
出願日： 1992年03月30日
公開日（公表日）： 1993年10月22日
要約：
【要約】【目的】 この発明の目的は、広い測定レンジを有するコンパクトな粒度分布測定装置を提供することにある。【構成】 この発明の粒度分布測定装置は、レーザー光を粒子に照射することにより生じる散乱光を、レンズにより、レーザー光軸に垂直に配置された散乱光検出器面上に結像させて、その強度分布を測定し、その測定結果から粒度分布を求める粒度分布測定装置において、レーザー光の光軸を調整するための光軸調整用受光素子を散乱光検出用受光素子として共用してなることを特徴とする。
請求項（抜粋）：
レーザー光を粒子に照射することにより生じる散乱光を、レンズにより、レーザー光軸に垂直に配置された散乱光検出器面上に結像させて、その強度分布を測定し、その測定結果から粒度分布を求める粒度分布測定装置において、レーザー光の光軸を調整するための光軸調整用受光素子を散乱光検出用受光素子として共用してなることを特徴とする粒度分布測定装置。
引用特許：
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