特許
J-GLOBAL ID：200903082914440930

形状計測方法及びその装置

発明者：
藤垣 元治

藤垣 元治 について

, 
森本 吉春

森本 吉春 について


出願人/特許権者：
和歌山大学長

和歌山大学長 について


代理人 (1件)： 杉村 暁秀 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-070269
公開番号（公開出願番号）：特開2001-264031
出願日： 2000年03月14日
公開日（公表日）： 2001年09月26日
要約：
【要約】【課題】 物体の大きさによらず、高精度な形状計測を可能とする形状計測方法及び形状計測装置を提供する。【解決手段】 複数の基準面R0〜RN-1を、これら基準面の法線方向に所定の間隔で設定する。そして、計測すべき物体3を前記複数の基準面の内、両端に位置する基準面R0及びRN-1の間に配置する。その後、物体3の表面上の点Sの座標を求めるために、基準面R0〜RN-1を用いて、点Sを通るカメラの視線Lcとプロジェクタからの光線Lpが基準面R0〜RN-1とそれぞれ交わる点POP1と直線C0C1の交点を求め、そのZ座標からその点に最も近接した2つの基準面Ri及びRi+1を選出する。そして、これら基準面Ri及びRi+1を用いて物体3の形状を計測する。
請求項（抜粋）：
複数の異なる基準面を設定するとともに、これら基準面の間に計測試料を配置し、この計測試料の表面上において光照射装置から発射された光線LPと撮像装置の視線LCとを交差させ、前記光照射装置の位置に対応する前記複数の基準面におけるそれぞれの座標値と、前記撮像装置の位置に対応する前記複数の基準面におけるそれぞれの座標値とを演算処理して、前記計測試料の形状を計測する方法であって、前記複数の基準面は、この基準面の法線方向において少なくとも3つ並列するとともに、前記計測試料の形状は、この計測試料に近接して配置された前記複数の基準面の内の2つによって計測するようにしたことを特徴とする、形状計測方法。
Fターム (10件)：
2F065AA53 ,  2F065DD03 ,  2F065FF04 ,  2F065FF61 ,  2F065HH06 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL00 ,  2F065QQ16 ,  2F065QQ24
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (1件)

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