特許
J-GLOBAL ID：200903082915834053
光位相変調評価装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-339241
公開番号（公開出願番号）：特開2008-153900
出願日： 2006年12月15日
公開日（公表日）： 2008年07月03日
要約：
【課題】 シンボルレートの異なるDPSK、DQPSK等における光位相変調信号の位相変調状態を正確に評価できる光位相変調評価装置を提供する。【解決手段】 光位相変調信号を分波する第1のビームスプリッタ1と分波した光を合波して光強度変換信号を出力する第2のビームスプリッタ6とビット遅延器2と第2のビームスプリッタから出力される光強度変換信号を電気信号に変換し光位相変調信号を観測する光波形測定部11とを備えた光位相変調評価装置において、ビット遅延器が上記光位相変調信号の複数のシンボルレートに対応してシンボルレートの1ビットに相当する遅延量を設定できるようにした。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
光搬送波がデータ信号で位相変調されてなる光位相変調信号を受けて、第1のミラー(3)を含んで構成される第1の光路を通る第1の光と第2のミラー(4)を含んで構成される第2の光路を通る第2の光に分波する第1のビームスプリッタ(1)と前記第1の光と前記第2の光とを合波して干渉させ当該光位相変調信号が変換されてなる光強度変換信号を出力する第2のビームスプリッタ(6)と前記第1の光路または前記第2の光路に配置されるビット遅延器(2)とを有するマッハツェンダ型のビット遅延干渉計(10)と、
該ビット遅延干渉計から出力される前記光強度変換信号を電気信号に変換し前記光位相変調信号を観測する光波形測定部(11)とを備えた光位相変調評価装置において、
前記ビット遅延器が、前記光位相変調信号の複数のシンボルレートのそれぞれに対応して、当該シンボルレートの1ビットに相当する遅延量を設定できるようにされており、さらに、
前記光位相変調信号の前記シンボルレートを指定するシンボルレート指定信号に基づいて、前記ビット遅延器の遅延量を設定する遅延量設定手段(12)を備えたことを特徴とする光位相変調評価装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (19件)：
2H041AA23
, 2H041AB26
, 2H041AB27
, 2H041AC08
, 2H041AZ06
, 5K102AA51
, 5K102AA61
, 5K102AH11
, 5K102AH27
, 5K102MA01
, 5K102MB12
, 5K102MB20
, 5K102MC06
, 5K102MH02
, 5K102MH13
, 5K102MH22
, 5K102PH49
, 5K102RB01
, 5K102RB02
