特許
J-GLOBAL ID：200903082944699238
勾配磁場変化率監視方法およびMRI装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
有近 紳志郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-262711
公開番号（公開出願番号）：特開平8-117203
出願日： 1994年10月26日
公開日（公表日）： 1996年05月14日
要約：
【要約】【目的】 勾配磁場変化率に関する物理量を実際に測定して、勾配磁場変化率を監視する。【構成】 ボディコイル15の内側(または外側)にz軸方向に感度を有するサーチコイル21を設置し、そのサーチコイル21の誘起電圧Eを誘起電圧測定器22で測定する。計算機107は、勾配磁場印加中に短時間周期で、前記誘起電圧Eが所定の閾値Ehを超えないかを監視し、前者が後者を超えたなら、勾配磁場変化率が過大であると評価し、そのMRI用スキャンシーケンスの実行を中止する。一方、前者が後者を超えないなら、そのMRI用スキャンシーケンスを継続実行する。【効果】 信頼性が高くなるから、安全係数を過大にする必要がなくなり、MRI用スキャンシーケンスの高速化の要請に対応しやすくなる。また、被検体が入る円筒状の空間の拡大の要請にも対応しやすくなる。
請求項（抜粋）：
勾配磁場変化により誘起電圧を生じるサーチコイルを設け、そのサーチコイルの誘起電圧の大きさに基づいて勾配磁場変化率を監視することを特徴とする勾配磁場変化率監視方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
A61B 5/05 341
, G01N 24/06 530 Y
