特許
J-GLOBAL ID：200903082992101557

表示装置の製造方法及びその製造装置

発明者：
牧野 富夫

牧野 富夫 について


出願人/特許権者：
株式会社東芝

株式会社東芝 について

, 
東芝電子エンジニアリング株式会社

東芝電子エンジニアリング株式会社 について


代理人 (1件)： 外川 英明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-369256
公開番号（公開出願番号）：特開2003-255854
出願日： 2002年12月20日
公開日（公表日）： 2003年09月10日
要約：
【要約】【課題】 液晶表示装置12に設けられたROM18へEDID情報を書き込む方法であって、書き込む作業工程を画像検査と連続して同一の装置を用いて行う方法を提供するものである。【解決手段】 液晶表示装置12の画像検査を行うための画像テストデータを選択するテストデータ選択工程と、製造番号を読み込む製造番号読み込み工程と、画像テストデータに対応したE-EDID情報のうち規定の製造データを画像検査装置から呼び出し、この呼び出した規定の製造データと、読み込んだ製造番号と、タイマが計測している現在の製造年週とをE-EDID情報としてROM18に書き込むE-EDID情報書き込み工程と、選択した画像テストデータによって画像検査を行う画像検査工程とよりなるものである。
請求項（抜粋）：
表示装置に設けられた記録媒体へ当該表示装置の製造番号データ、製造年週データ及び当該表示装置の品種を識別する仕様データを含む製造履歴データを書き込むための表示装置の製造方法において、表示装置の品種毎に対応する複数の画像テストデータ及び前記複数の画像テストデータの各々に対応する前記仕様データが蓄積された第1のメモリ部と、前記製造番号を記憶する第2のメモリ部と、年週データを計測するタイマと、前記表示装置に接続されるインタフェース部と、前記第1のメモリ部及び第2のメモリ部に蓄積された各データ及び前記年週データを前記インタフェースに送出する制御部とを具備する画像検査装置に前記表示装置を接続する工程と、前記第1のメモリ部に蓄積された前記複数の画像テストデータの中から前記表示装置に適応した画像テストデータを選択するテストデータ選択工程と、前記表示装置に付与された製造番号データを前記画像検査装置に入力し前記第2のメモリ部に記憶させる製造番号データ読み込み工程と、前記第1のメモリ部に蓄積された前記仕様データのうち、前記テストデータ選択工程で選択された画像テストデータに対応する前記仕様データと、前記製造番号読み込み工程で前記第2のメモリ部に記憶された前記製造番号と、前記タイマが計測している現在の年週データとを前記インタフェース部を介して前記記録媒体に書き込む製造履歴データ書き込み工程と、前記製造履歴データ書き込み工程に引き続き、前記テストデータ選択工程で選択された前記画像テストデータを前記インタフェース部を介して前記表示装置に送出し、前記表示装置の点灯検査を行う画像検査工程と、を有することを特徴とする表示装置の製造方法。
IPC (2件)：
G09F 9/00 352 ,  G09G 5/00
FI (2件)：
G09F 9/00 352 ,  G09G 5/00 X
Fターム (20件)：
5C082AA13 ,  5C082BB25 ,  5C082CB06 ,  5C082CB08 ,  5C082DA61 ,  5C082EA20 ,  5C082MM07 ,  5C082MM09 ,  5G435AA17 ,  5G435AA19 ,  5G435BB01 ,  5G435BB02 ,  5G435BB05 ,  5G435BB11 ,  5G435BB12 ,  5G435KK05 ,  5G435KK10 ,  5G435LL04 ,  5G435LL07 ,  5G435LL08
引用特許：
審査官引用 (5件)
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