特許
J-GLOBAL ID:200903083025524029
光周波数領域反射測定装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
杉村 暁秀 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-309311
公開番号(公開出願番号):特開平7-159281
出願日: 1993年12月09日
公開日(公表日): 1995年06月23日
要約:
【要約】【目的】 広い範囲にわたって、高い距離分解能が可能になる光周波数領域反射測定装置を提供する。【構成】 光源からの光を被測定光ファイバーに導きそれからの反射或いは後方散乱を測定する際に、高速外部変調器によって測定光の周波数を時間に対して直線的に掃引するように構成した。
請求項(抜粋):
1)極めてコヒーレントな光を発生するレーザー光源と、2)該光源より生じた光の強度もしくは位相に周波数変調をかけるための高速外部変調器と、3)該高速外部速変調器からの出力光の周波数変調成分の中から、0次光及び高次変調成分を除去し、1次変調成分のみを取り出すための光フィルターと、4)該光フィルターからの出力光を2波に分波するための第1の光方向性結合器と、5)該第1の光方向性結合器の片方の出力光を被測定光ファイバーに導き、且つ該被測定光ファイバーからの反射もしくは後方散乱光を取り出すための第2の光方向性結合器と、6)該第2の光方向性結合器を介して取り出された反射光及び後方散乱光を、前記第1の光方向性結合器の残りの出力ポートより出力される光波と合波しヘテロダイン検波するための平衡型ヘテロダイン受信器と、7)該平衡型ヘテロダイン受信器からの電気信号を周波数解析するためのスペクトラムアナライザーと、8)該スペクトラムアナライザーの測定値を加算平均化するための信号処理系と、9)ファブリーペロー干渉計の共振線を光周波数に合わせて同期制御するための同期制御系とから構成され、前記高速外部変調器により光の周波数を時間に対して直線的に掃引するように構成したことを特徴とする光周波数領域反射測定装置。
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