特許
J-GLOBAL ID：200903083030115307
電子部品の検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小鍜治 明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-176576
公開番号（公開出願番号）：特開平6-018615
出願日： 1992年07月03日
公開日（公表日）： 1994年01月28日
要約：
【要約】【目的】 電子部品の検査装置において、検査台が傾斜していてもすべてのリ-ドを検査用接触部に均一に電気接触させ、リード曲がりを防止する。【構成】 電子部品1のリード2、3と電気接触するための検査用接触部5、6を配置した検査台4と、電子部品1を上方より押さえてリード2、3を検査用接触部5、6に加圧接触させるための気体または液体を注入することによって変形する伸縮自在の風船8からなる。
請求項（抜粋）：
電子部品のリードと電気接触するための検査用接触部を配置した検査台と、前記電子部品を上方より押さえてリードを検査用接触部に加圧接触させるための押さえ具とを有し、前記押さえ具が外力により変形自在の物質を注入することによって変形する伸縮自在の球状体からなる電子部品の検査装置。
IPC (2件)：
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