特許
J-GLOBAL ID：200903083045053570
測距装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中村 稔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-187945
公開番号（公開出願番号）：特開平8-029162
出願日： 1994年07月19日
公開日（公表日）： 1996年02月02日
要約：
【要約】【目的】 反射率の大きな差のある測距対象物の測距時や、照射スポットの一部が測距対象より外れるような状況下での測距時であっても、精度の高い測距データを算出する。【構成】 投光手段1と第1の受光手段2を結ぶ基線長軸上の、前記第1の受光手段に隣接して、これとは異なる基線長距離nLを持つ位置に配置される第2の受光手段41と、前記第1と第2の受光手段の出力によって得られるそれぞれの測距データの差情報に基づいて最終的な測距データを算出する演算手段を備え、第1と第2の受光手段の測距データの差情報を求め、この差情報により測定された測距データに補正を加えて最終的な測距データを得るようにしている。
請求項（抜粋）：
測距対象物へ光を照射する投光手段と、前記照射光の測距対象物での反射光を受光する第1の受光手段と、前記投光手段と第1の受光手段を結ぶ基線長軸上の、前記第1の受光手段に隣接して、これとは異なる基線長距離を持つ位置に配置される第2の受光手段と、前記第1と第2の受光手段の出力によって得られるそれぞれの測距データの差情報に基づいて最終的な測距データを算出する演算手段とを備えた測距装置。
IPC (3件)：
G01C 3/06
, G02B 7/32
, G03B 13/36
G02B 7/11 B
, G03B 3/00 A
