特許
J-GLOBAL ID:200903083150182571

LCDパネル検査装置およびLCDパネルの表示むら欠陥検査方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 若林 忠 (外4名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-086069
公開番号(公開出願番号):特開平11-281528
出願日: 1998年03月31日
公開日(公表日): 1999年10月15日
要約:
【要約】【課題】 LCDパネル周辺部の輝度の低下を補正してむら欠陥検査を行う。【解決手段】 LCDパネル1を照明するバックライト2と、その表示画像を撮像するCCDカメラ3とを有し、前記LCDパネルに表示された検査用画像を撮像して得られる第1の画像データに基づいてLCDパネル2の表示むら欠陥検査を行うLCDパネル検査装置において、LCDパネル1に電荷を加えていない状態でバックライト2で照明し、その表示画像を撮像して得られた第2の画像データについて、パネル中心部から周辺部にわたって輝度値がほぼ一定となるように、パネル周辺部のラインのエッジ補正係数を算出するエッジ補正係数算出部8と、その各ライン毎に算出されたエッジ補正係数を、上記第1の画像データの対応する各ラインに乗じて補正処理を行う画像エッジ補正処理部9とを有する。
請求項(抜粋):
検査対象であるLCDパネルをその裏面側から照明するバックライトと、前記LCDパネルの表示画像を撮像する撮像手段とを有し、前記LCDパネルに表示された検査用画像を前記撮像手段で撮像して得られる第1の画像データに基づいて前記LCDパネルの表示むら欠陥検査を行うLCDパネル検査装置において、前記LCDパネルに電荷を加えていない状態で前記バックライトにより照明して形成される表示画像を前記撮像手段で撮像して得られた第2の画像データについて、パネル中心部から周辺部にわたって輝度値がほぼ一定となるように、パネル周辺部のラインのエッジ補正係数を算出するエッジ補正係数算出手段と、前記パネル周辺部の各ラインについて算出されたエッジ補正係数を、前記第1の画像データの対応する各ラインに乗じて補正処理を行う画像エッジ補正処理手段とを有することを特徴とするLCDパネル検査装置。
IPC (2件):
G01M 11/00 ,  G02F 1/13 101
FI (2件):
G01M 11/00 T ,  G02F 1/13 101

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