特許
J-GLOBAL ID：200903083209141068
直交変調器の調整装置及び調整方法並びに通信装置とプログラム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
加藤 朝道
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-024034
公開番号（公開出願番号）：特開2005-217911
出願日： 2004年01月30日
公開日（公表日）： 2005年08月11日
要約：
【課題】 送信回路の直交変調器のIQオフセットの調整時間を短縮し、高精度化を達成し、テストコストを低減する装置及び方法の提供。【解決手段】 アナログベースバンド部11からのI、Q信号を入力し搬送波を変調する直交変調器10のI、Qオフセットの調整にあたり、前記アナログベースバンド部11に対してI、Q成分をX、Y座標とするIQオフセット補正平面上での異なる、少なくとも3点にそれぞれ対応するIオフセットとQオフセットの設定値を、それぞれ異なる設定タイミングに対応させて設定し、直交変調器10からの出力信号のうち3点のオフセットの設定値に対応するキャリアリークレベルを一回の測定により取得し、3点のキャリアリークレベルの測定値から、3点のキャリア・サプレション比を求めることでI、Qのオフセットの最適設定値を求める。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
ベースバンド部から出力される同相信号(「I信号」という)及び直交信号(「Q信号」という)で搬送波を直交変調して出力する直交変調器のI信号とQ信号のオフセット(それぞれ「Iオフセット」、「Qオフセット」という)の最適調整値を、コンピュータにより導出する方法であって、
I、Q成分をX、Y座標とする2次元座標平面上で選択された、互いに異なる、Iオフセット及びQオフセットの設定値の複数組に対応して、前記ベースバンド部から出力されるI、Q信号を入力とする前記直交変調器の出力のキャリア・リークレベルの測定値を入力するステップと、
前記Iオフセット及びQオフセット設定値の各組に対応するキャリア・リークレベルの測定値から、それぞれに対応するキャリア・サプレション比を求め、I及びQオフセットの最適調整値を導出するステップと、
を含む、ことを特徴とするオフセット調整値の導出方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
H04L27/00 F
, H04L27/20 Z
5K004AA05
, 5K004AA08
, 5K004FE00
, 5K004FF00
, 5K004FF05
, 5K004JE00
, 5K004JF00
, 5K004JF04
